Sistema de Haz de Iones Enfocado Ethos NX5000
El Ethos FIB-SEM de Hitachi incorpora el FE-SEM de última generación con excelente brillo y estabilidad del haz.
Hitachi High-Tech en Europa maneja una amplia variedad de productos, desde ordenadores y periféricos hasta instrumentos y sistemas científicos, dispositivos electrónicos y maquinaria y materiales industriales.
Productos de Hitachi High Tech
en Instrumentación Científica
Disponibilidad regional
Hitachi ZONETEM II
El ZONETEM II de Hitachi ofrece una solución efectiva, fácil de usar y económica para laboratorios que deseen observar y analizar muestras.
Hitachi ZONESEM II
Analiza muestras en la SEM sin contaminación
IM4000II y ArBlade5000
IM4000II y ArBlade5000, la última generación de pulidoras iónicas Hitachi es adecuada para la preparación de grandes superficies.
TM4000III & TM4000PlusIII
Microscopio de Sobremesa
TM4000
Microscopios electrónico de barrido de alta resolución
FlexSEM1000 II
Microscopio electrónico de barrido compacto
Hitachi HT7800 TEM Series
TEM de Bajo Voltaje (120kV)
Ethos NX5000
FIB-SEM Triple Beam
Hitachi H-9500 TEM
El TEM de alto voltaje Hitachi H-9500 combina rendimiento, alta resolución, estabilidad y fiabilidad.
Hitachi HF-5000 TEM/STEM
El STEM HD-2700 es el equipo esencial para el avance de la nanotecnología. Permite un análisis rápido, de alto rendimiento y alta resolución.
Hitachi Field Emission HF-3300 TEM
El TEM de emisión de campo Hitachi HF-3300 es un MET de alto voltaje equipado con la última generación de cañón de cátodo frío.
Sistema de Haz de Iones Focalizados NX-9000
El sistema de Haz de Iones Focalizados (FIB) HITACHI NX-9000 tiene una geometría única en el mercado.
Sistema de Haz de Iconos Focalizados NX-2000
El sistema HITACHI Focused Icon Beam (FIB) NX-2000, una herramienta indispensable para la caracterización y el análisis de las tecnologías más recientes.
HITACHI SU3800 SEM
Cámara para muestras grandes Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de presión variable
SU3800SE / SEPlus
Microscopio electrónico de barrido Schottky de alta resolución
SU3900
Microscopio electrónico de barrido de presión variable con cámara para muestras de gran tamaño
SU3900SE / SE Plus
Microscopio electrónico de barrido Schottky de gran cámara y alta resolución
Hitachi – SU3900SE
SEM de emisión de campo tipo Schottky con presión variable y cámara de muestras extra grande
SU5000
Field emission & variable pressure scanning electron microscope
SU8600
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de ultra alta resolución Hitachi.
Hitachi SU9000II
La tecnología CFE Gun presente en el Hitachi SU9000II logra la mayor resolución SEM del mundo (0.4 nm a 30 kV).
SU7000
Microscopio electrónico de barrido Schottky de ultra alta resolución.
Líquido iónico HiLEM IL1000
Innovación de Hitachi para microscopios electrónicos Hitachi. Lo último en preparación de muestras.