TM4000III & TM4000PlusIII
Microscopio de Sobremesa
La nueva generación de microscopios electrónicos de barrido de sobremesa Hitachi TM4000III y TM4000PlusIII satisface las necesidades de todos los laboratorios que desean analizar la topografía de sus muestras desde la escala milimétrica hasta la submicrónica y determinar su composición química.
Hitachi High Tech presenta los modelos TM4000III y TM4000Plus III, 20 años después del lanzamiento del primer microscopio electrónico de barrido de sobremesa. Con más de 5,800 unidades instaladas en todo el mundo, Hitachi reafirma su posición como líder global en el mercado de Microscopios Electrónicos de Barrido de Sobremesa (también conocidos como MiniMEB™ o benchtop SEM).
Esta nueva generación ofrece una serie de mejoras, incluyendo funciones automáticas que simplifican tareas cotidianas como el movimiento de la platina, la magnificación y la captura de imágenes.
El TM4000Plus III incluye un visor óptico para localizar fácilmente áreas de interés y navegación automática a través de múltiples portamuestras.
El modo de “bajo vacío” permite la observación directa de cualquier tipo de muestra, ya sea conductora o aislante, seca, grasa o húmeda.
Un detector altamente sensible de electrones retrodispersados proporciona información sobre el contraste topográfico y del número atómico con aumentos de hasta 250,000 veces (100,000 veces en formato polaroid). Los detalles extremos de la superficie se revelan utilizando un voltaje de aceleración bajo combinado con una excelente relación señal-ruido.
El TM4000Plus III también está equipado con un detector de electrones secundarios (UVD), que puede utilizarse en modo de bajo vacío.
Además, incorpora la nueva tecnología IFT para monitorear la vida útil del filamento, evitando preocupaciones por roturas inesperadas durante períodos de uso intensivo.
Un espectrómetro de rayos X selectivo por energía (EDS) con un detector de deriva de silicio (SDD) de área amplia permite determinar la composición desde el elemento boro y realizar mapeo elemental. Hitachi ofrece opciones como Bruker Quantax, Oxford Aztec o modelos EDAX.
Está disponible una amplia gama de accesorios:
- Dispositivo STEM
- Software Hitachi Map 3D: reconstrucción 3D, análisis de granos y partículas, textura superficial, análisis de volumen y perfil, análisis de fibras, colocalización…
- Software para adquisición automática de imágenes en varias zonas
- Función macro
Features and variations
- Funcionamiento sencillo e intuitivo
- Preparación mínima de la muestra
- Adecuado para muestras no conductoras
- Voltajes de aceleración: 5kV, 10kV, 15kV y 20kV con 5 corrientes de sonda por tensión
- Magnificación: de x10 a x100000 (referencia al formato fotográfico)
- Tamaño máximo de la muestra: 80 mm de diámetro y 50 mm de altura
- Detector BSE de alta sensibilidad: gran variedad de posibilidades de imagen gracias al detector BSE de 4 segmentos
- Detector SE patentado para la observación de rugosidades y detalles finos de la superficie (en la configuración TM4000Plus III)
- Ejemplo de visualización de corriente (configuración TM4000Plus III)
- Se puede ampliar para adaptarlo a sus necesidades