TM4000III & TM4000PlusIII

La nouvelle génération de Microscope Electronique à Balayage de table MiniMEB® Hitachi TM4000III et TM4000PlusIII répond aux besoins de tous les laboratoires qui souhaitent contrôler la topographie de leurs échantillons de l’échelle millimétrique à l’échelle submicronique et d’en déterminer leur composition chimique. 

Hitachi High Tech introduit les modèles TM4000III et TM4000PlusIII, 20 ans après la commercialisation du tout premier MEB de table. Avec plus de 5800 unités installés à travers le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des microscope électronique de table (également appelés MiniMEB™ ou MEB de paillasse).

Cette nouvelle génération apporte de nombreuses améliorations, avec notamment des fonctions automatiques qui simplifient les tâches quotidiennes tels que le déplacement de la platine, le grandissement et la capture d’image.

Le TM4000PlusIII dispose d’un dispositif de visualisation optique de l’échantillon facilitant la localisation des zones d’intérêt et la navigation automatique sur des portes échantillons multiples.

Le mode « pression contrôlée » permet l’observation directe de tout type d’échantillon, qu’il soit conducteur ou isolant, sec, gras ou humide.

Un détecteur d’électrons rétrodiffusés de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu’à des grandissements de x250.000 (x100.000 en format polaroid). Les détails d’extrême surface sont révélés par l’utilisation d’une faible tension d’accélération combinée à excellent rapport signal/bruit.

Le TM4000PlusIII est également équipé d’un détecteur d’électrons secondaires (UVD), utilisable en mode « pression variable ».

De plus, il intègre la nouvelle technologie IFT qui assure le suivi de la durée de vie du filament, évitant ainsi toute inquiétude liée à une rupture imprévisible du filament lors des périodes de forte utilisation.

Un spectromètre de rayons X à sélection d’énergie (EDS) utilisant un détecteur Silicon Drift (SDD) de large surface active détermine la composition à partir de l’élément Bore et permet de réaliser des cartographies élémentaires. Hitachi intègre au choix le modèle Bruker Quantax, le modèle Oxford Aztec ou le modèle EDAX.

De nombreux accessoires sont disponibles :

• Dispositif STEM
• Logiciel Hitachi Map 3D : Reconstruction 3D, Analyse et détection de grains et particules, Analyse de texture de surface, de volume et de profil, Analyse de fibres, Colocalisation…
• Logiciel d’acquisition d’images automatiques sur plusieurs zones
• Fonction Macro