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Microscopie Électronique à Balayage (MEB)
Microscopes électroniques à balayage standard et à pression variable (SEM & VP-SEM), ultra haute résolution à cathode froide ou à cathode chaude (FEG-SEM), avec des systèmes innovants d’optique électronique et de détection de signal offrant des performances d’imagerie et d’analyse inégalées.
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