Hitachi ZONESEM II

El limpiador de muestras de sobremesa Hitachi ZONE II utiliza tecnología de limpieza basada en UV para minimizar o eliminar la contaminación por hidrocarburos en la obtención de imágenes mediante microscopía electrónica.

La contaminación de las muestras puede limitar gravemente la calidad de las imágenes y la utilidad del microscopio electrónico de barrido (SEM).

Durante las técnicas de preparación de muestras, a través de interacciones químicas o atmosféricas, los hidrocarburos pueden adherirse no covalentemente a la superficie de la muestra.

Cuando el haz de electrones penetra en la muestra, los hidrocarburos pueden polimerizarse sobre su superficie. Esta capa formada altera la muestra e interfiere con las imágenes del SEM.

Limpiar la superficie eliminando los hidrocarburos antes de la obtención de imágenes mejora significativamente los resultados y produce imágenes de mayor calidad.

El ZONE II para SEM utiliza irradiación UV controlada por vacío y oxígeno activado para “limpiar” suavemente y rápidamente la superficie de la muestra antes de la obtención de imágenes, sin necesidad de usar productos químicos, gases o reactivos.

Con un diseño compacto y una pantalla táctil intuitiva, la segunda generación del “ZONE II” es una adición segura y fácil de usar para cualquier laboratorio.