Accesorios para SEM
Accesorios para dotar a sus instrumentos de Microscopía Electrónica de las funciones más avanzadas
Instrumentación Científica
Instrumentación científica para apoyar la investigación y garantizar la calidad en la industria con los instrumentos más precisos.
Distribuyendo y manteniendo equipos de instrumentación científica durante casi 40 años
Milexia Francia distribuye y realiza el mantenimiento de equipos de instrumentación científica desde hace casi 40 años en este país. También en Bélgica, Luxemburgo, Suiza, y ocasionalmente, en los países del Magreb.
Somos el socio francófono de empresas de renombre mundial: Hitachi High Tech para microscopía electrónica, FIB, Thermo Scientific para microanálisis de rayos X, Sensofar para perfilometría óptica, Rigaku para difracción y equipos de análisis elemental dedicados a la industria de semiconductores.
Podemos ofrecer a nuestros clientes soluciones completas con un único punto de contacto para ventas, aplicaciones y soporte posventa. Nos beneficiamos de una experiencia reconocida y adquirida en contacto con unidades de producción, particularmente en el campo de los semiconductores.
Instrumentación Científica grupos de productos
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Accesorios para TEM
Equipos no destructivos para la detección e imagen de estructuras microscópicas o defectos en el interior de semiconductores y componentes electrónicos.
Consumibles de Microscopía Electrónica
Contamos con una amplia selección de consumibles para la preparación de muestras TEM y SEM.
Key products:
Equipos Preparación Muestras SEM
Equipos de preparación de muestras SEM: criogenia, recubridor de carbono para evitar la carga eléctrica y punto críticos.
Key products:
Equipos Preparación Muestras TEM
Equipo de preparación de muestras TEM para cortes ultrafinos, ion milling y pulido preciso de materiales avanzados.
Key products:
Haz de Iones Focalizados (FIB)
Microscopios electrónicos de barrido con haz de iones focalizados (FIB-SEM) de alta precisión con observación SEM en tiempo real
Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)
Microscopios SEM y VP-SEM de alta resolución (FEG-SEM) con óptica avanzada y detectores innovadores, brindan rendimiento excepcional en imagen y análisis.
Key products:
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
Gama completa de TEM, alta y baja tensión, para caracterizar estructura y composición química en ciencia de materiales y biología/medicina.
Tomografía acústica de escaneo
Equipos no destructivos para la detección e imagen de estructuras microscópicas o defectos en el interior de semiconductores y componentes electrónicos.
Partners de Milexia en tecnología instrumentación científica
