Hitachi HF-5000 TEM/STEM
MET/STEM avec correcteur d’aberrations sphériques (200kV)
Le TEM/STEM 200 kV à aberration corrigée unique d’Hitachi : l’harmonie parfaite entre la résolution d’imagerie et les performances analytiques.
Une résolution spatiale de 0,078 nm en STEM est obtenue avec une capacité d’inclinaison élevée de l’échantillon et un ou plusieurs détecteurs EDX à grand angle, le tout dans une configuration à objectif unique.
Le HF5000 s’appuie sur les caractéristiques du STEM dédié Hitachi HD-2700, y compris le correcteur d’aberration entièrement automatisé propre à Hitachi, le double SDD EDX symétrique et l’imagerie SE corrigée par Cs. Il intègre également les technologies TEM/STEM avancées développées dans la série HF.
L’intégration de ces technologies accumulées dans une nouvelle plateforme TEM/STEM de 200 kV permet d’obtenir un instrument offrant une combinaison optimale d’imagerie et d’analyse sub-Å, ainsi que la flexibilité et les capacités uniques nécessaires aux études les plus avancées.
Caractéristiques :
- Correcteur d’aberration sphérique Hitachi à formation de sonde entièrement automatisée
- Canon à électrons FE froid (Cold FEG) à haute luminosité et haute stabilité
- Colonne et alimentations ultra-stables pour une meilleure performance de l’instrument
- Capacité d’imagerie simultanée SEM et STEM corrigée au césium avec une résolution atomique.
- Nouvelle platine porte-objet à entrée latérale et nouveaux porte-objets à haute stabilité.
- Détecteurs EDX* doubles 100 mm2 symétriquement opposés : “Symmetrical Dual SDD*”.
- Boîtier nouvellement conçu pour des performances optimales dans des environnements de laboratoire réels.
- Une large gamme de porte-échantillons avancés Hitachi*.
Especificaciones
- Corrector totalmente automatizado de aberración esférica para formación de haz de Hitachi
- Cañón de electrones FE frío de alto brillo y alta estabilidad (Cold FEG)
- Columna ultra estable y fuentes de alimentación para un rendimiento mejorado del instrumento
- Capacidad simultánea de imagen SEM y STEM con Cs corregido con resolución atómica
- Nueva etapa de muestra de entrada lateral de alta estabilidad y portaobjetos
- Detectores EDX duales de 100 mm² opuestos simétricamente: "Symmetrical Dual SDD*"
- Nueva carcasa diseñada para un rendimiento óptimo en entornos de laboratorio reales
- Amplia gama de portaobjetos avanzados de Hitachi