Hitachi ZONESEM II

Zone SEM II offre une solution efficace, facile à utiliser et peu coûteuse pour les laboratoires qui souhaitent observer et analyser des échantillons au MEB sans les artefacts causés par la contamination de surface des composés d’hydrocarbures.

La contamination des échantillons peut fortement limiter la qualité des images et l’utilité applicative du microscope électronique à balayage (MEB).

Lors des techniques de préparation des échantillons, par des interactions chimiques ou atmosphériques, des hydrocarbures peuvent s’attacher de manière non covalente à la surface de l’échantillon.

Lorsque le faisceau d’électrons pénètre dans l’échantillon, ces hydrocarbures peuvent polymériser à la surface. La couche ainsi formée modifie l’échantillon et interfère avec l’imagerie MEB. Le nettoyage de la surface de l’échantillon par l’élimination des hydrocarbures avant l’imagerie permet d’obtenir de meilleurs résultats et des images de plus haute qualité.

Le ZONE II pour MEB utilise une irradiation UV contrôlée sous vide et de l’oxygène activé afin de « nettoyer » doucement et rapidement la surface de l’échantillon avant l’imagerie, sans recourir à des produits chimiques, des gaz ou des réactifs.

Grâce à son encombrement compatible avec les laboratoires et à son écran tactile intuitif, la deuxième génération du « ZONE II » constitue un ajout sûr et facile à utiliser pour tout laboratoire.