Milexia Exhibirá en MFS 2025

Milexia Ibérica se complace en confirmar su participación en el MFS 2025 (Microscopy at the Frontiers of Science Conference 2025), que se celebrará del 23 al 26 de septiembre en Valencia, España. Este evento se ha consolidado como un punto de encuentro clave para la comunidad científica centrada en la microscopía, fomentando la colaboración interdisciplinar y el intercambio de conocimientos entre investigadores de todo el mundo.

El programa del congreso comenzará con un taller inaugural dedicado al análisis de partículas individuales mediante Cryo-EM, una técnica avanzada en biología estructural. Posteriormente, se desarrollarán tres días completos de conferencias impartidas por al menos seis ponentes internacionales de renombre, quienes abordarán temas de actualidad en tres áreas principales: ciencia de materiales, ciencias de la vida y criomicroscopía electrónica (CryoEM). Estas sesiones cubrirán tanto los últimos avances técnicos como las tendencias emergentes en el campo.

Durante todo el evento, nuestro equipo de expertos realizará una demostración en vivo del microscopio electrónico de barrido Hitachi TM4000PLUSII (SEM). Este instrumento de última generación establece nuevos estándares en microscopía electrónica, ofreciendo una usabilidad excepcional, alto rendimiento y una versatilidad notable para el análisis de muestras. Los asistentes tendrán la oportunidad de explorar sus avanzadas características y descubrir cómo esta tecnología puede mejorar significativamente las capacidades analíticas SEM/TEM.

Live Demonstration of the TM4000PLUSII

The demonstration will allow attendees to gain in-depth knowledge of the TM4000PLUSII‘s capabilities, highlighting its main advantages:

• Intuitive Operation: Optimized system for users of all levels, featuring an accessible interface and automated controls.
• Exceptional Image Quality: High resolution and enhanced contrast for precise material characterization.
• Analysis Flexibility: Capable of operating in both high and low vacuum modes, making it ideal for various scientific and industrial applications.
• Advanced Detection: Integration of secondary and backscattered electron detectors to obtain maximum structural and compositional information.

MFS 2025 representa una oportunidad única para conocer los últimos avances en microscopía, establecer conexiones profesionales y participar en un entorno científico de alto nivel.

Para más información y registro, por favor visita la página web oficial de la conferencia Aquí

¡Esperamos verte allí!