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Fort de 40 ans d’expérience dans la fourniture de solutions de microscopie électronique, nous vous garantissons une haute performance et une fiabilité exceptionnelle.

Nos ingénieurs experts peuvent travailler avec vous pour identifier l’équipement de Microscopie Electronique parfait pour votre projet et votre environnement de laboratoire.

Microscopie électronique à balayage (MEB)

Notre fournisseur exclusif d’équipements et d’accessoires MEB est Hitachi High Tech, des innovateurs mondiaux en microscopes électroniques à balayage depuis plus de 50 ans.

Nous offrons un accès à toute la gamme d équipements Hitachi High Tech, incluant des microscopes de table compacts ainsi que des MEB dotés de chambres de spécimen très grandes.  En tant que partenaire de longue date d’Hitachi High Tech, nous bénéficions d’un accès immédiat aux dernières innovations de leurs lignes de produits en Microscopie Electronique à Balayage dès leur sortie.

Notre gamme Hitachi offre la résolution la plus élevée pour les images de microscope électronique à balayage dans le monde (0,4 nm à 30 kV), ainsi qu’un accès à des technologies et des techniques révolutionnaires telles que le balayage par émission de champ froid (CFE) et la technologie de filament intelligent (IFT). Le grossissement maximum d’un microscope électronique à balayage dans la gamme Hitachi atteint jusqu’à 3 000 000x. Nous proposons une solution complète et unique, quelles que soient l’ampleur de vos besoins en imagerie et en analyse.

Nous proposons également des solutions adaptées à chaque type de projet, avec une sélection de microscopes électroniques à balayage de milieu de gamme puissants et de machines spécialisées.

Chez Milexia, nous excellons dans l’identification et la configuration d’équipements SEM parfaitement adaptés à votre projet. Nous nous engageons à vous fournir des performances optimales en termes de résolution, de capacités analytiques et de spécificités applicatives, tout en optimisant les coûts.

Produit Phare FlexSEM1000 II

La troisième génération de SEM compact HITACHI, modèle FlexSEM1000 II, est le successeur du SU1510 et du FlexSEM1000.

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Microscope électronique à balayage haute performance sur la paillasse de laboratoire

Nos microscopes de table et compacts puissants offrent une imagerie haute résolution et une gamme étendue de grossissements adaptée à diverses applications. Ils présentent également une empreinte plus petite pour votre laboratoire, une consommation d’énergie réduite et un budget maîtrisé.

La magnification du microscope électronique à balayage n’est pas compromise au niveau compact, avec un accès utilisateur à une magnification de 250 000x depuis la paillasse, ainsi qu’une sélection facile des échantillons et une gamme de systèmes de détection avancés.

Cette solution est idéale pour les utilisateurs recherchant des solutions abordables et peu d’entretien, facilement transportables pour une utilisation dans diverses applications.

Explorez notre gamme de microscopes électroniques à balayage

Microscopie électronique à transmission (TEM)

Nous sommes également en partenariat exclusif avec Hitachi High Tech, fabricant leader mondial de microscopes électroniques en transmission depuis plus de 50 ans, pour fournir notre gamme d’équipements et d’accessoires MET.

Nous sommes également en partenariat exclusif avec Hitachi High Tech, fabricant leader mondial de microscopes électroniques en transmission depuis plus de 50 ans, pour fournir notre gamme d’équipements et d’accessoires TEM.

La gamme de microscopes électroniques en transmission Hitachi offre une résolution, une profondeur de pénétration et un grossissement inégalés sur une large plage de tensions. Avec des modèles uniques allant de 120 kV à 300 kV selon les préférences de l’utilisateur, ou des machines dédiées à basse tension de 120 kV, nous fournissons des solutions pour chaque tâche d’analyse et d’imagerie.

En tant que l’un des innovateurs dominants dans le domaine de la microscopie électronique en transmission, le partenariat étroit de Hitachi avec Milexia nous permet de vous fournir les dernières innovations mondiales au fur et à mesure de leur émergence. Celles-ci comprennent, entre autres :

  • la dernière génération de technologie de cathode froide
  • Le TEM/STEM corrigé d’aberration unique de 200 kV pour une imagerie et une analyse intégrées
  • Configurations avancées à lentilles multiples pour une microscopie tout-en-un

Explorez notre gamme de microscopes électroniques en transmission

Préparation d'échantillons

Milexia est en partenariat avec plusieurs fournisseurs leaders dans la préparation d’échantillons pour la microscopie électronique, ce qui nous permet de fournir des performances optimales quelles que soient les exigences de votre projet.

En choisissant Milexia pour fournir vos accessoires de préparation d’échantillons, vous débloquez des configurations d’équipement flexibles qui s’appuient sur le meilleur de plusieurs fabricants. Nos ingénieurs experts installeront et intégreront votre équipement, en veillant à ce qu’il fonctionne selon les spécifications exactes pendant toute la durée de son utilisation.
Nous servons plusieurs catégories de préparation d’échantillons:

UV cleaners - electron-microscopy

Nettoyage

Surface modification

Modification de surface

Cryogenic Preparation and Observation

Préparation et observation cryogéniques

electron microscopy specialised equipment

Techniques spécialisées

Parlons de votre projet à venir dès aujourd'hui

Vous pouvez nous contacter pour bénéficier d'une consultation gratuite et sans engagement avec un ingénieur commercial expérimenté. Vous pourrez discuter de votre projet avec nous et obtenir des conseils sur la meilleure approche à adopter.

Nous enregistrerons les détails de notre conversation pour que vous puissiez y revenir lorsque vous serez prêt.

Solidité de l'offre

Milexia entretient d'excellentes relations avec les principaux fournisseurs de technologie. Vous bénéficiez d'une aide inégalée dans la recherche de vos équipements et systèmes, ainsi que de services à valeur ajoutée comme la conception technique et la maintenance.
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