IRIDIO EDS + µXRF
microXRF para SEM
IXRF Systems ofrece una solución combinada de EDS (Espectrómetro de Rayos X Selectivo de Energía) + µXRF (Microfluorescencia de Rayos X) para microscopios electrónicos de barrido de todas las marcas.
El analizador almacena los espectros completos de cada píxel en la placa para su análisis en línea o fuera de línea.
Las muestras pueden analizarse simultáneamente con el haz de rayos X emitido por la fuente de micropuntos y el haz de electrones sin cambiar de posición. Ambos métodos de excitación están integrados en el paquete de software de análisis de alta gama IRIDIUM Ultra. La técnica micro XRF no es destructiva y no requiere deposición conductiva sobre la muestra.
Hay varias fuentes disponibles, en función de las necesidades:
- La fuente fX con un spot de 500µm
- Las fuentes Xb con un punto de 40µm o 10µm (óptica policapilar) con una potencia máxima de 50 vatios
