SU8600
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de ultra alta resolución Hitachi.
El SU8600 inaugura una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de campo frío de ultralta resolución en la consolidada línea de productos EM de Hitachi.
Esta revolucionaria plataforma CFE-SEM incorpora imágenes multifacéticas, automatización, mayor estabilidad del sistema y flujos de trabajo eficientes para usuarios de todos los niveles de experiencia.
El SEM de cátodo frío Hitachi SU8600 FEG UHR ofrece una resolución inferior a 1 nm en todo el rango de voltajes de aceleración disponibles.
Nuevos detectores y una interfaz de software mejorada facilitan la obtención de imágenes de una variedad de muestras, hasta las mayores magnificaciones.
El SEM Hitachi SU8600 FEG cubre una amplia gama de aplicaciones (nanomateriales, semiconductores, polímeros, biología) que requieren las resoluciones máximas.
Los detectores Upper, Top e IMD en-lente aseguran un ajuste muy preciso de electrones secundarios y retro dispersados según su energía y dirección, revelando así los detalles superficiales más finos sin necesidad de metalizar las muestras.
Features and variations
- Resolución garantizada en sitio: 0,6 nm a 15 kV; 0,7 nm a 1 kV
- Emisión fría de nueva generación con regulación automática de corriente
- Tensión de aceleración: 0,5 kV a 30 kV
- Sistema de desaceleración parametrizable (energía de aterrizaje desde 10 eV)
- Muestras hasta 200 mm de diámetro
- Sas de introducción de muestras
- Cámara de Navegación integrada
- Detectores SE, BSE, en la cámara, SE y BSE In-Lens, Cátodo
- Detector STEM (Bright Field, Dark Field)
- Múltiples puertos disponibles para EDS, EBSD, Platina criogénica, etc.