SU3900SE / SE Plus
MEB grande chambre à effet de champ haute résolution à cathode chaude
Les MEB grande chambre à effet de champ à cathode chaude SU3900SE et SU3900SE Plus permettent d’accéder à la très haute résolution, sans compromis sur la taille, la variété des échantillons et les capacités analytiques.
Le SU3900SE et SU3900SE Plus combinent une acquisition de données facile grâce à un fonctionnement intuitif et une utilisation sécurisée, tout en permettant d’analyser des échantillons plus volumineux et plus lourds que ceux des MEB FEG traditionnels. Cela permet d’observer des échantillons de grande taille et de poids conséquent, tels que des matériaux industriels comme le fer et l’acier, des composants automobiles, ainsi que des pièces liées à l’aérospatiale.
Proposés avec ou sans détecteur d’électrons « in-lens », ils présentent de très nombreuses possibilités d’évolution pour s’adapter aux problématiques évolutives des laboratoires et aux budgets disponibles.
Leurs interfaces graphiques donnent accès aux fonctions via un cheminement adapté aux utilisateurs peu expérimentés ou aux utilisateurs confirmés.
Features and variations
- Résolution garantie à 30kV : 0,9nm - Résolution garantie à 1kV : 2,5nm – Résolution garantie à 1kV-D* : 1,6nm
- Grandissements : x5 à x600.000 en continu
- Tension d’accélération : de 0,5kV à 30Kv
- Grandissements : x5 to x800,000
- Gamme de pressions (en mode low vacuum) : 6Pa à 150Pa
- Taille d’échantillon maximale : 300mm de diamètre et 130mm de hauteur
- Déplacement sur 5 axes motorisés
- Distance analytique : 10mm, angle d’émergence : 35°
- Détecteurs SED, BSED, TD (SE Plus) et UVD*