Hitachi SU9000II
La tecnología CFE Gun presente en el Hitachi SU9000II logra la mayor resolución SEM del mundo (0.4 nm a 30 kV).
La tecnología CFE Gun presente en el Hitachi SU9000II logra la mayor resolución SEM del mundo (0.4 nm a 30 kV).
El Hitachi SU9000II es ideal para imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente pequeño y dispersión de energía.
Cuenta con óptica electrónica única, con la muestra posicionada dentro de un espacio entre las partes superior e inferior del trozo del lente objetivo.
Con su innovadora tecnología de cañón de emisión de campo frío garantiza la mayor resolución posible del sistema
(resolución SE de 0.4 nm a 30 kV, 0.7 nm a 1 kV con función de desaceleración)
y la mayor estabilidad contra perturbaciones externas (campos, vibraciones, contaminación).
El Hitachi SU9000II utiliza un escenario de entrada lateral ultra estable similar a los sistemas TEM de alta gama
Incorpora amortiguación optimizada de vibraciones y un gabinete cerrado para proteger la óptica electrónica del ruido ambiental.
Aplicación
Características y Variaciones
- La resolución SE más alta del mundo: 0.4 nm a 30 kV.
- Nueva cañón de electrones de emisión de campo frío rediseñado que permite tanto alta brillantez como una corriente de emisión extremadamente estable.
- Rendimiento superior a bajo kV para observar materiales sensibles al haz. Resolución SE: 0.7 nm a 1 kV de voltaje de aterrizaje (con opción de desaceleración).
- Cámara de muestra de ultravacío que reduce los artefactos de contaminación de la muestra.
- Estructura de alta rigidez y recinto acústico que aseguran un funcionamiento de alto rendimiento en una amplia variedad de entornos.
- Nuevas capacidades LV STEM: la posición del Duo STEM BF/DF puede regularse para controlar la detección de señales de dispersión desde ángulos bajos hasta altos en modo de campo oscuro. Lente objetivo in-lens de baja aberración y sistema óptico optimizado para observaciones STEM. Las imágenes de red se pueden observar en SEM/STEM.