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Analizador de Ruido de Fase 53100A

Caracterización rápida, multifunción y de alta precisión de osciladores

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El analizador de ruido de fase Microchip 53100A mide la estabilidad de amplitud, fase y frecuencia de fuentes de RF de alto rendimiento.

Admite frecuencias portadoras de 1 MHz a 200 MHz. El 53100A te proporciona toda la información que necesitas sobre las características de estabilidad de tus dispositivos,

en escalas de tiempo que van desde femtosegundos hasta días.

53100A-Phase noise analyzer
53100A-Phase noise analyzer

Ya sea para uso en un banco de trabajo o integrado en sistemas ATE montados en rack, su formato compacto y la velocidad de medición

líder en la industria hacen que este equipo de prueba sea versátil para múltiples aplicaciones.

Ampliando la herencia de las series de instrumentos 3120A y 51XXA, el 53100A realiza mediciones rápidas

y precisas de ruido de fase de banda lateral única (SSB) y desviación Allan (ADEV) a una fracción del costo de soluciones alternativas.

Gracias a un diseño mejorado y a los avances en la fabricación, el Analizador de Ruido de Fase 53100A ofrece mejoras en fiabilidad y rendimiento respecto a las tecnologías que lo precedieron.

Principales Características 53100A

  • Desviación Allan (ADEV) típicamente inferior a 5E-15 en t=1s y 1E-16 en t=1000s
  • Desviación Allan modificada (MDEV), desviación Hadamard (HDEV) y desviación temporal (TDEV)
  • Jitter temporal integrado RMS, FM residual y relación portadora/ruido SSB
  • Ruido de fase y ruido AM en desplazamientos de 0.001 Hz a 1 MHz y niveles típicamente inferiores a -175 dBc/Hz (suelo de 10 MHz)
  • Frecuencias de entrada y referencia independientes de 1 a 200 MHz
  • No se requiere bloqueo de fase ni calibración de medición
  • Entradas de oscilador de referencia simple o dual que permiten mediciones de correlación cruzada
  • Emulación de comandos y flujo de datos TSC 51XXA que reduce la necesidad de reescribir scripts de prueba existentes
  • Interfaz gráfica de usuario intuitiva para una configuración y supervisión sencillas
  • Mediciones superiores a 200 MHz mediante conversión descendente externa

Recursos

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