53100A Phase Noise Analyzer

Il Microchip 53100A Phase Noise Analyzer misura l’ampiezza, la fase e la stabilità in frequenza delle sorgenti RF ad alte prestazioni. Supporta frequenze portanti da 1 MHz a 200 MHz. Il 53100A fornisce tutte le informazioni necessarie sulle caratteristiche di stabilità dei dispositivi, su scale temporali che vanno dai femtosecondi fino a diversi giorni.

Il set di misura può essere utilizzato sia su banco sia integrato in sistemi ATE da rack; il formato compatto e la velocità di misura ai vertici del settore lo rendono adatto a molteplici applicazioni. Sulla base dell’eredità degli strumenti delle serie 3120A e 51XXA, il 53100A esegue misure di rumore di fase SSB e Allan deviation (ADEV) rapide e accurate, con un costo notevolmente inferiore rispetto alle soluzioni alternative. Grazie a un progetto migliorato e ai progressi nei processi produttivi, il 53100A offre maggiore affidabilità e prestazioni superiori rispetto alle tecnologie precedenti.

Specifiche principali

• Allan deviation (ADEV) tipicamente < 5×10⁻¹⁵ a τ = 1 s e 1×10⁻¹⁶ a τ = 1000 s
• Misure di Modified Allan deviation (MDEV), Hadamard deviation (HDEV) e Time deviation (TDEV)
• Jitter RMS integrato, FM residua e rapporto portante/rumore SSB
• Rumore di fase e rumore AM con offset da 0,001 Hz a 1 MHz, con livelli tipicamente < –175 dBc/Hz (fondo a 10 MHz)
• Frequenze di ingresso e di riferimento indipendenti da 1 a 200 MHz
• Nessuna necessità di phase‑locking o calibrazione di misura
• Ingressi per oscillatore di riferimento singolo o doppio per misure in cross‑correlation
• Emulazione dei comandi e del flusso dati TSC 51XXA, per ridurre la necessità di riscrivere gli script di test esistenti
• Interfaccia grafica intuitiva per una configurazione e un monitoraggio semplificati
• Misure oltre 200 MHz tramite down‑conversion esterna