53100A Phase Noise Analyzer

Der 53100A von Microchip misst die Amplitude, Phase und Frequenzstabilität von Hochleistungs-HF-Quellen.

Es werden Trägerfrequenzen von 1 MHz bis 200 MHz unterstützt. Der 53100A liefert Ihnen alle erforderlichen Informationen zu den Stabilitätseigenschaften Ihrer Geräte in Zeitskalen von Femtosekunden bis zu Tagen.

Ob auf dem Labortisch oder eingebettet in rackmontierte ATE-Systeme – dank seiner kompakten Bauweise und branchenführenden Messgeschwindigkeit eignet sich dieses Testgerät für vielfältige Anwendungen. Der 53100A baut auf der Tradition der Geräteserien 3120A und 51XXA auf und ermöglicht schnelle und dennoch genaue Messungen des Einseitenbandrauschens (SSB) und der Allan-Abweichung (ADEV) zu einem Bruchteil der Kosten alternativer Lösungen.

Dank eines verbesserten Designs und Optimierungen in der Fertigung bietet der 53100A gegenüber seinen Vorgängern Verbesserungen in Bezug auf Zuverlässigkeit und Leistung.

• Allan-Abweichung (ADEV) typischerweise weniger als 5E-15 bei t=1s, 1E-16 bei t=1000s
• Modifizierte Allan-Abweichung (MDEV), Hadamard-Abweichung (HDEV) und Zeitabweichung (TDEV)
• RMS-integrierter Zeitjitter, Rest-FM und SSB-Träger/Rausch-Verhältnis
• Phasenrauschen und AM-Rauschen bei Offsets von 0,001 Hz bis 1 MHz und Pegeln unter typischerweise unter -175 dBc/Hz (10 MHz Boden)
• Unabhängige Eingangs- und Referenzfrequenzen von 1 bis 200 MHz
• Keine Phasenverriegelung oder Messkalibrierung erforderlich
• Einzelne oder doppelte Referenzoszillatoreingänge ermöglichen Kreuzkorrelationsmessungen
• Die TSC 51XXA-Befehls- und Datenstromemulation reduziert den Aufwand für das Neuschreiben bestehender Testskripte
• Intuitive grafische Benutzeroberfläche für einfache Einrichtung und Überwachung
• Messungen über 200 MHz mit externer Abwärtskonvertierung