Produits Contrôle et inspection automatiques des semiconducteurs disponibles en France
Rigaku XTRAIA XD-3300
Système de détection automatique de composition et de cristallinité de couches minces
Rigaku TXRF 310FAB
Système de détection automatique de contaminants métalliques par incidence rasante.
Hitachi Power Solution – Wafer Line
Système d’inspection ultrasonique entièrement automatisé qui assure une détection fiable et reproductible des défauts tout au long du processus d’inspection.
Techno Horizon TI-X900s
Système d’inspection à rayons X CT à haute définition, conçu pour le contrôle non destructif des composants électroniques et semi-conducteurs les plus avancés. Grâce à une résolution exceptionnelle jusqu’à 0,16 µm, il permet une analyse détaillée des structures internes en 2D et 3D.